高分辨穿透式電子顯微鏡 (High Resolution Transmission Electron Microscope,簡稱:HRTEM)

儀器說明

 

一、 廠牌與型號:

日本JEOL JEM-F200

二、重要規格    
  1. 加速電壓:200KV and 80KV
  2. 電子槍形式 : 場發射(冷場), Cold Field Emission Gun
  3. TEM Point resolution : 0.19nm@200KV
  4. TEM lattice resolution : 0.10nm@200KV and 0.14nm@80KV
  5. STEM Lattice resolution : 0.14nm@200KV and 0.31nm@80KV
  6. STEM Detectors : DF, BF(ABF) and BEI
  7. 雙傾斜試片座

三、收費標準

       

 

 

 

高分辨穿透式電子顯微鏡

 

(委託操作收費)

 

機台開機費

(3hr)

 

18,000/

 

EDS

成份分析

 

 

2,000元/次

照相

 

200元/張

 


 

四、代工申請表

代工申請單下載

 
五、負責人員
聯絡人
負責技士

李薇妮 博士  

mail:wnlee@mx.nthu.edu.tw

Tel

03 - 5715131

校內分機 31032

機台位置:材料實驗館 R110